Mittaustekniikka 147 IR-lämpömittarityypit Kokonaissäteilypyrometrit Laaja aallonpituusalue (esim. 1-100 µm)  häiriöaltis Hidas (vaste 1-3 s) Osittaissäteilypyrometrit.

Esitys aiheesta: "Mittaustekniikka 147 IR-lämpömittarityypit Kokonaissäteilypyrometrit Laaja aallonpituusalue (esim. 1-100 µm)  häiriöaltis Hidas (vaste 1-3 s) Osittaissäteilypyrometrit."— Esityksen transkriptio:

1 Mittaustekniikka 147 IR-lämpömittarityypit Kokonaissäteilypyrometrit Laaja aallonpituusalue (esim. 1-100 µm)  häiriöaltis Hidas (vaste 1-3 s) Osittaissäteilypyrometrit Kapea aallonpituusalue (esim. 0,5-1,1 µm)  vähemmän häiriöaltis Nopea (vaste ~ms) Suhdepyrometrit (2-väripyrometri) Mitataan kahdella aallonpituusalueella ja säteilyn intensiteettien suhteesta lasketaan lämpötila Lämpökamerat Jäähdytetyt (nopea) / jäähdyttämättömät ilmaisin matriisit Lämpötilaerojen ja absoluuttisten lämpötilojen mittaaminen T. Weckström: Lämpötilan mittaus, J4/2005, MIKES Metrologia, 2. painos, Helsinki 2005

2 Mittaustekniikka 148 LabVIEW National Instrumentsin graafinen ohjelmointiympäristö Kehitetty mittaus- ja testaussovelluksiin. (Soveltuu myös muuhun käyttöön.) Laitteiden ohjaaminen, tiedonkeruu, käsittely, esittäminen ja tallentaminen Hyvä tuki eri laitteille. valmiita ajureita ja ohjelmia Koodin sisällä voidaan ajaa esim. Matlab- tai C-koodia. Usein nopein tapa toteuttaa mittauksen tietokoneistaminen LabVIEW:iin perehdytään tarkemmin kursseilla: Mikron liittäminen ympäristöön LabVIEW instrumentoinnissa (fysikaalinen kemia)

3 Mittaustekniikka 149 Virtual instrument - VI Koostuu kahdesta toisiinsa liittyvästä osasta Front panel: virtuaalisen mittausinstrumentin käyttöliittymä Säätimet, osoittimet Diagram: ohjelmointipuoli Parametrit, muuttujat, aliohjelmat, jne. esitetään ikoneina, joita voidaan yhdistellä vetämällä ”lankoja” näiden välille ja näin ohjelmoidaan haluttu toiminta. (Graafisuus vähentää syntaksi ongelmia) Paljon valmiita operaatioita. Esim: digitaalisia filttereitä, fft,... Ohjelman suorittamisjärjestys poikkeaa tavanomaisista ohjelmointikielistä. Suorittamisjärjestyksen määrää saatavilla oleva data.  Toiminnan omaksuminen voi tuottaa alussa hankaluuksia.

4 Mittaustekniikka 150 Esimerkki vi: kivimittaus Lämpötila muuttuu. Otetaan halutuin välein talteen signaalit (UÄ, T, paine) Muutetaan painetta halutulla tavalla tai pidetään se vakiona (mittari näyttää mihin suuntaan painetta pitää muuttaa)

5 Mittaustekniikka 151 Esimerkki vi Oikeat asetukset oskilloskooppiin Lämpötila ja paine parametrien kysyminen Kysytään kuvaus mittauksesta Odotetaan haluttua lämpötilaa Luodaan lämpötilataulukko Luetaan lämpötila ja paine Mitataan kun lämpötila on oikea Näytetään haluttu paine Mitataan jos nappia painetaan Tallennetaan lämpötila ja paine Tallennetaan signaali Tallennetaan uudestaan lämpötila ja paine

6 Mittaustekniikka 152 Joitain aliohjelmia edellisestä: Oskilloskoopin alustaminen

7 Mittaustekniikka 153 Paineen ja lämpötilan kysely DAQ-kortilta

8 Mittaustekniikka 154 Mittauksen parametrien kysyminen ja tallennus

9 Mittaustekniikka 155 Koodausvinkkejä Jotta koodi pysyy luettavana ja muokattavana: Käytä aliohjelmia Ei mielellään diagrammeja, jotka eivät mahdu kerralla näytölle Vierekkäiset ”piuhat” voi yhdistää bundleksi Clean up wire -toiminto Muuten tulos voi näyttää tältä:

10 Mittaustekniikka 156 Spagetti vi

11 Mittaustekniikka 157 Front panelin tekeminen Hiiren oikealla napilla saa kontrollit esille Tools: näkyy sekä front panelissa, että diagrammi puolella Context help: ctrl+h

12 Mittaustekniikka 158 Tools Automatic tool selection Operate value Position/size/select Edit text Connect wire Object shortcut menu Scroll window Set/clear break point Probe data Get color Set color Vaihtaminen yleisimpien työkalujen välillä tabilla

13 Mittaustekniikka 159 LabVIEW functions Hiiren oikealla napilla saa funktiot esille

14 Mittaustekniikka 160 LabVIEW functions

15 Mittaustekniikka 161 LabVIEW functions

16 Mittaustekniikka 162 LabVIEW functions

17 Mittaustekniikka 163 LabVIEW functions

18 Mittaustekniikka 164 LabVIEW functions

19 Mittaustekniikka 165 LabVIEW functions

20 Mittaustekniikka 166 Kurssipalaute Laitoksen kurssipalautejärjestelmä on kehitteillä ja uudistunut. Kaikki laitoksen perus- ja aineopintojen kurssit sekä säännöllisesti luennoitavat syventävät kurssit ovat mukana arvioinneissa noin 2-3 vuoden välein. Opetuksen kehittämistyöryhmän päätöksellä kurssipalauteen antaminen on "pakollista". (palautelomakkeessa opiskelijanumerosarake) https://kampela.it.helsinki.fi/elomake/lomakkeet/1926/lomake.html Vastausaika 3.12.2007 - 6.1.2008

21 Mittaustekniikka 167 Kurssipalautteen tavoite Kurssin opettaja hyödyntää opiskelijapalautetta oman työn ja toiminnan kehittämiseen sekä opintojakson suunnitteluun.  Julkinen yhteenveto, joka sisältää graafisen koonnin väittämistä, tiiviin yhteenvedon avoimista vastauksista sekä luennoitsijan vastapalautteen. Yhteenvetojen avulla palaute tulee hyödynnettyä